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梅特勒托利多XP系列微量天平

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●微量天平采用分离的称量单元和显示控制单元,微量天平避免电子元件散热对称量结果准确性的影响

●天平校验功能(BalanceCheck),微量天平自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平,确保微量天平称量结果始终准确

●GWPExcellenceTM一体化安全功能,微量天平确保微量天平始终正确工作

●微量天平优化天平适应性的称量参数设置,微量天平满足不同称量环境要求

●微量天平完全可拆卸、清洗的内部和外部玻璃防风罩设计,实现微量天平的快速清洁

●微量天平丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量

技术指标:

型号

最大称量值(g

可读性(mg

重复性(sd)(mg

线性误差(mg

稳定时间(s

秤盘尺寸(mm

XP26

22

0.001

0.0025

0.006

3.5

40*40

XP26DR

5.1/22

0.002/0.01

0.002/0.008

0.01

3.5/2.5

40*40

XP56

52

0.001

0.006

0.02

3.5

40*40

XP56DR

11/52

0.002/0.01

0.002/0.014

0.03

3.5/2.5

40*40


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